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介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀參數(shù)介紹

更新時(shí)間:2019-06-24      點(diǎn)擊次數(shù):2585

 

介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀參數(shù)介紹

中航鼎力介電常數(shù)測定儀, LJD-C介電常數(shù)測試儀簡介 滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法高頻介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)由S916測試裝置(夾具)、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動(dòng)測量控件(裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成,它依據(jù)國標(biāo)GB/T 1409-2006、美標(biāo)ASTM D150以及電工委員會(huì)IEC60250的規(guī)定設(shè)計(jì)制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)自動(dòng)測量的解決方案。

參數(shù)指標(biāo)

 

 

附表一,介質(zhì)損耗測試系統(tǒng)主要性能參數(shù)一覽表

S916測試裝置                           介電常數(shù)測試儀高頻Q表

 

 
平板電容片Φ50mm/Φ38mm可選頻率范圍20KHz-60MHz/200KHz-160MHz
間距可調(diào)范圍≥15mm頻率指示誤差3×10-5±1個(gè)字
夾具插頭間距25mm±0.01mm主電容調(diào)節(jié)范圍30-500/18-220pF
測微桿分辨率0.001mm主調(diào)電容誤差<1%或1pF
夾具損耗角正切值≦4×10-4 (1MHz)Q測試范圍2~1023

 

介電常數(shù)測試儀附表二,LKI-1電感組典型測試數(shù)據(jù)

 

 
線圈號測試頻率Q值分布電容p電感值
9100KHz989.425mH
8400KHz13811.44.87mH
7400KHz202160.99mH
61MHz19613252μH
52MHz1988.749.8μH
44.5MHz231710μH
312MHz1936.92.49μH
212MHz2296.40.508μH
125MHz
50MHz
233
211
0.90.125μH

介電常數(shù)介質(zhì)損耗(介質(zhì)損耗角)測試儀 
 
型號:LJD-C

一.介電常數(shù)測試儀主要特點(diǎn):
空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板,薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。 印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數(shù)為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會(huì)造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。 

二.介電常數(shù)測試儀主要技術(shù)特性:
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。


三.介電常數(shù)測試儀儀器技術(shù)指標(biāo):
☆Q值測量:
a.Q值測量范圍:2~1023。              b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
c.標(biāo)稱誤差

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